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在電子制造和材料科學領域,去膠技術是一個至關重要的環(huán)節(jié)。隨著科技的進步,等離子去膠和微波去膠作為兩種常見的去膠方法,各自具備特殊的優(yōu)勢與適用性。本文將探討這兩種技術的基本原理、優(yōu)缺點及其在實際應用中的區(qū)別。一、基本原理1.等離子去膠:利用等...
非接觸式電阻測試儀器使用渦電流的測試原理。渦電流可產生一個磁場,當磁場與導電材料接觸時,會在材料中感應到渦流。根據感應渦流的電流大小,可以計算得到該材料的面電阻。技術的優(yōu)勢:1、是一種非接觸、無損的測量方式,不破壞材料;2、可以測量密封在絕緣層內的導電層;3、每秒采樣次數高達數萬次,測量速度快。使用方法:非接觸式電阻測試儀器是指埋入地下的接地體電阻和土壤散流電阻,通常采用型接地電阻測量儀進行測量。型測量儀其外形與普通絕緣搖表差不多,也就按習慣稱為接地電阻搖表。型搖表的外形結構...
白光干涉儀是以白光干涉技術為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器,用于表面形貌紋理,微觀結構分析,用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數,廣泛應用于光學,半導體,材料,精密機械等等領域。工作原理:白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分成兩束光,分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光,并由成像系統(tǒng)在CCD相機感光面形...
膜厚測量儀是一款高精度、高重復性的機械接觸式精密測厚儀,可選配自動進樣機,更加準確、高效的進行連續(xù)多點測量。測試原理:將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。膜厚測量儀基礎應用:紙——各種紙張、紙板、復合紙板等的厚度測定;薄膜、薄片——各種塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度測定;擴展應用:瓦楞紙板——瓦楞紙板的厚度測定;金屬片、硅片—...
納米壓痕儀是一種準確,靈活,使用方便的納米級機械測試儀器。它測量楊氏模量和硬度,包括從納米到毫米的六個數量級的形變測量。該系統(tǒng)還可以測量聚合物,凝膠和生物組織的復數模量以及薄金屬膜的蠕變響應(應變率靈敏度)。模塊化選項可適用于各種應用:頻率特定測試,定量刮擦和磨損測試,集成的基于探頭的成像,高溫納米壓痕測試,擴展負載容量高達10N和自定義測試。納米壓痕儀主要適用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,測量結果通過載荷及壓入深度曲線計算得出,無需應用顯微鏡觀測壓痕面積??杀挥糜谟袡C或無...
白光干涉儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現(xiàn)器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。白光干涉儀可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。目前儀器可廣...