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在電子制造和材料科學領域,去膠技術(shù)是一個至關(guān)重要的環(huán)節(jié)。隨著科技的進步,等離子去膠和微波去膠作為兩種常見的去膠方法,各自具備特殊的優(yōu)勢與適用性。本文將探討這兩種技術(shù)的基本原理、優(yōu)缺點及其在實際應用中的區(qū)別。一、基本原理1.等離子去膠:利用等...
主動式防震臺能夠克服一般光學平臺以及氣浮平臺低頻共振,配合Herzan的隔音箱能夠隔絕空氣的擾動,能夠給精密測量提供的振動隔離,適用于時間頻率測量、原子力顯微鏡(AFM)、掃描隧道顯微鏡(STM)。它的主動防震系統(tǒng)是基于先進技術(shù)的,它兼?zhèn)涠噙_三個獨立的主動隔振層和兩個被動隔振層。這種系統(tǒng)架構(gòu)的廣泛靈活性允許KS系統(tǒng)在安裝中獲得最大的性能,特別是在典型防震系統(tǒng)無法使用的情況下。主動式防震臺可用于抵消工作環(huán)境對靈敏度高的精密設備產(chǎn)生的不必要振動,提高精密設備的性能。流線型的結(jié)構(gòu)設...
晶圓對準設備是實現(xiàn)系統(tǒng)微型化和系統(tǒng)更高集成度的關(guān)鍵工藝設備,尤其是先進的MEMS、MOEMS制造的關(guān)鍵設備之一。其鍵合工藝主要包括陽極鍵合、共晶鍵合、熔融鍵合。該設備主要應用于微機電系統(tǒng)極限環(huán)境可靠性測試試驗中的封裝測試過程,為各種微機電器件提供不同類型的鍵合封裝,為檢驗不同材料、鍵合條件對可靠性的影響提供鍵合技術(shù)支持。目前,晶圓對準設備可應用于多個領域,包括MEMS、功率器件、圖像傳感器、先進封裝和化合物半導體等。其還能夠滿足各類基底的鍵合對準需求。主要功能:1.可用于陽極...
在薄膜制造及加工業(yè),檢測薄膜的厚度是常見的薄膜檢測指標之一,厚度檢測又多分為薄膜厚度檢測以及涂層厚度檢測兩類。由于薄膜的厚度是各層樹脂厚度的總和,如果薄膜的整體厚度均勻性差,其中各層樹脂的厚度分布也會存在差異。毫無疑問,對涂層厚度的檢測將更有利于有效控制薄膜各層的厚度均勻性,但對于多層薄膜若想精確測量每一涂層的厚度,在相應的厚度檢測設備上就需要有非常大的投資,并隨著薄膜層數(shù)的增長而加大,給企業(yè)帶來較大的經(jīng)濟負擔。比較經(jīng)濟的方式是對部分價格昂貴的涂層材料進行涂層厚度的檢測,同時...
近年來,隨著儀器行業(yè)的不斷發(fā)展,多波段橢偏儀在市場上得到了快速地發(fā)展。由于其突出的表現(xiàn),受到了廣泛用戶的青睞。目前本產(chǎn)品可以廣泛地應用于半導體、通訊、數(shù)據(jù)存儲、光學鍍膜等領域中,下面我們就來具體的了解一下這款儀器!它的光譜范圍:最初,多波段橢偏儀的工作波長多為單一波長或少數(shù)獨立的波長,較典型的是采用激光或?qū)﹄娀〉葟姽庾V光進行濾光產(chǎn)生的單色光源。大多數(shù)的橢偏儀在很寬的波長范圍內(nèi)以多波段工作。它和單波段的橢偏儀相比,多波段橢偏儀可以提升多層探測能力,可以測試物質(zhì)對不同波長光波的折...
ThetaMetrisis膜厚儀應用說明#050應用微間距覆晶解決方案應用銅柱凸塊新封裝技術(shù)系列激光加工/切割冷卻液水溶性保護膜(HogoMax)厚度測量應用。1、介紹:隨著芯片制程逐漸微縮到28奈米,凸塊尺寸同樣減小,銅柱凸塊成為繼銅打線封裝制程后新的封裝技術(shù)變革.與錫鉛凸塊比較,銅柱凸塊具有較佳的效能及較低的整體封裝成本。銅柱凸塊應用于覆晶封裝上連結(jié)芯片和與載板的技術(shù)適合用于高階芯片封裝,例如應用處理器、微處理器、基頻芯片、繪圖芯片等。用於半導體激光加工/切割工藝的高純度...