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簡要描述:Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
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Filmetrics F32薄膜厚度測量儀——在線測量的解決方案
使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
F32先進的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤,加上附加的分光計,可達到四個不同的位置(EXR和UVX版本多兩個位置)。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機軟件來控制啟動/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導(dǎo)出到主機軟件中進行統(tǒng)計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件,以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。
包含的軟件和USB連接使得在任何windows平臺上安裝F32很簡單。在測量軟件的幫助下,它預(yù)裝了100多種材料,使得單層和多層薄膜的測量很容易實現(xiàn)。通過測量樣品的光學常數(shù)或從現(xiàn)有的來源輸入數(shù)據(jù),可以快速添加新材料。
選擇Filmetrics F32薄膜厚度測量儀的優(yōu)勢:
• 桌面式薄膜厚度測量
• 24小時電話,和在線支持
• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件
附 加 特 性
• 嵌入式在線診斷方式
• 免費離線分析軟件
• 精細的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效地存儲,重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果
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