4008529632
當前位置:首頁 > 技術文章 > 硅片厚度測量儀測量原理是什么?有什么特性?
測試原理: 硅片厚度測量儀采用機械接觸式測量原理,截取一定尺寸的式樣;通過控制面板按鈕,調(diào)節(jié)測量頭降落于式樣之上;依靠兩個接觸面產(chǎn)生的壓力和兩接觸面積通過傳感器測得的數(shù)值測量材料的厚度。
在線咨詢
電話
微信掃一掃
返回頂部