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納米壓痕儀改進(jìn)傳統(tǒng)測試方式的不足,應(yīng)用范圍更廣
納米壓痕儀改進(jìn)傳統(tǒng)測試方式的不足,應(yīng)用范圍更廣
更新時(shí)間:2021-12-22 | 點(diǎn)擊率:872
隨著納米技術(shù)的進(jìn)步和薄膜工藝的發(fā)展(太陽能電池,CVD,PVD,DLC,MEMS等),納米力學(xué)測試已成為標(biāo)準(zhǔn)方法。這種方法改進(jìn)了傳統(tǒng)硬度測試的不足,通過J尖的壓劃頭,高的空間分辨率和較精確的原位載荷-位移數(shù)據(jù),可以較精確測量小載荷和淺壓痕條件下的材料力學(xué)測試。
納米壓痕- 單一/多次壓痕,根據(jù)ISO14577測量薄膜、涂層和塊體材料的硬度,楊氏模量,拉伸和von Mises應(yīng)力,接觸剛度等。
納米劃痕- 采用恒定、漸進(jìn)和用戶自定義可編程加載方式,評價(jià)薄膜、涂層和塊體材料的劃痕硬度和劃痕附著力。
納米壓痕儀主要用于測量納米尺度的硬度與彈性模量,可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性。
還同時(shí)具備了納米測試系統(tǒng)所具有的豐富的測量模式,如恒應(yīng)變速率加載、視頻定位壓入、沖擊模式等。通過納米力學(xué)平臺(tái)的設(shè)計(jì),客戶可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學(xué)綜合測試系統(tǒng)。如AFM原子力顯微鏡同步成像、微米壓痕模塊、微米或納米劃痕模塊、微納米摩擦磨損模塊、變溫、濕度控制、真空環(huán)境等等。
納米壓痕儀可適用于有機(jī)或無機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測分析,包括PVD、CVD、PECVD薄膜,感光薄膜,彩繪釉漆,光學(xué)薄膜,微電子鍍膜,保護(hù)性薄膜,裝飾性薄膜等等?;w可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料,包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。
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